کتاب مترولوژی و مهندسی دقیق
- نویسنده : آنتونی جیمز تامس اسکار
- مترجم : حسین قلیزاده
-
ناشر :
طراح
- مدل : کتاب دانشگاهی
کتاب مترولوژی و مهندسی دقیق نوشته آنتونی جیمز تامس اسکار با ترجمه حسین قلیزاده, توسط انتشارات طراح با موضوع مهندسی و علم مواد به چاپ رسیده است.
معرفی مباحث کتاب مترولوژی و مهندسی دقیق
1. تاریخچه اندازهگیری
مروری بر تکامل ابزارها و روشهای اندازهگیری
اهمیت اندازهگیری در صنعت و علوم
2. انواع خطا
خطاهای سیستماتیک و تصادفی
اثرات خطا بر دقت و صحت اندازهگیری
3. بزرگنمایی
روشهای مکانیکی، نوری و الکترونیکی برای بزرگنمایی جابهجاییها
کاربرد در تشخیص دقیق
4. طراحی دستگاههای اندازهگیری
اصول طراحی برای دقت و تکرارپذیری
انتخاب حسگر و مکانیزم مناسب
5. استانداردهای طولی
استانداردهای جهانی و ملی برای طول و تلرانس
نمونههای مرجع و کالیبراسیون
6. تداخلسنجی (Interferometry)
استفاده از نور برای اندازهگیری دقیق طول
کاربرد در متالورژی و مهندسی دقیق
7. اندازهگیری زاویه
ابزارهای اندازهگیری زاویه: گونیومتر، ترازوی نوری و دیجیتال
روشهای محاسبه و کالیبراسیون
8. شکل هندسی
اندازهگیری مستقیم و غیرمستقیم ابعاد هندسی
کاربرد در کنترل کیفیت قطعات
9. صافی سطح
پارامترهای صافی سطح و استانداردها
ابزارهای تماس و غیرتماسی
10. اندازهگیری پیچ
ابزارهای اندازهگیری رزوه و گام پیچ
کاربرد در مونتاژ دقیق
11. اندازهگیری چرخنده
اندازهگیری دندهها، چرخها و محورهای گردنده
روشها و ابزارهای تخصصی
12. نیازهای طراحی
الزامات دقت، تکرارپذیری و پایداری ابزارها
نکات طراحی برای کاربرد صنعتی
13. نیازهای ساخت
انتخاب مواد و فرآیند تولید ابزار
تضمین کیفیت و دوام در محیطهای صنعتی
-
ناشرطراح
-
نویسندهآنتونی جیمز تامس اسکار
-
مترجمحسین قلیزاده
-
قطع کتابرقعی
-
نوع جلدشومیز
-
سال چاپ1395
-
نوبت چاپدوم
-
تعداد صفحات216