کتاب کلید مهندسی نحوه تست و عیب‌یابی قطعات و مدارات الکترونیکی

در این کتاب با روش‌های تست قطعات الکترونیکی نظیر دیود، تریستور، BJT,JFET,MOSFET آشنا شده و نحوه عیب یابی مدارات دارای BJTها و FETها را با کمک اهم متر و قوانین کریشهف خواهیم آموخت. در ادامه تکنیک های کلی عیب یابی مدارات الکترونیکی اعم از بردهای صنعتی آموزش داده خواهد شد.

  • روش های ارسال
  •    پیک تهران
  •    پیک سریع تهران
  •    پست پیشتاز
  •    تیباکس
  •    ویژه
  • موجود در انبار
100,000
٪5
95,000 تومان
توضیحات

کتاب کلید مهندسی نحوه تست و عیب‌یابی قطعات و مدارات الکترونیکی نوشته یاسمن قرائی، مرتضی سلطانیه توسط انتشارات سهاپویش با موضوع مهندسی برق، برق الکترونیک به چاپ رسیده است.

مباحث کتاب کلید مهندسی نحوه تست و عیب‌یابی قطعات و مدارات الکترونیکی

  1. تست دیود
  2. تست تریستورها
  3. تست تریاک‌ها
  4. تست کردن ترانزیستورهای BJT
  5. عیب یابی مدارات دارای ترانزیستورهای اثر میدانی
  6. عیب یابی مدارات داراتی JFET
  7. عیب یابی تقویت‌کننده@های عملیاتی 
  8. برخی از اشکالات رایج در مدارات دارای آپ امپ
  9. خلاصه مطلب
  10. تکنی‌خای عیب یابی 
  11. بررسی دلایل به وجود آمدن عیب
  12. تحلیل خرابی
مشخصات
  • ناشر
    سهادانش/ سهاپویش
  • نویسنده
    مرتضی سلطانیه, یاسمن قرائی
  • قطع کتاب
    رقعی
  • نوع جلد
    شومیز
  • سال چاپ
    1402
  • نوبت چاپ
    اول
  • تعداد صفحات
    64
نظرات کاربران
    هیچ دیدگاهی برای این محصول ثبت نشده است!
ثبت نظر
برگشت به بالا
0216640800© کلیه حقوق این سایت محفوظ و متعلق به فروشگاه آژانس کتاب است.02166408000