کتاب روش های شناسایی و آنالیز مواد نوشته مسعود نتاج ملکشاه توسط انتشارات ماهان به چاپ رسیده است.

موضوع کتاب: فنی مهندسی دکتری, مهندسی مواد, آشنایی با پرتو ایکس, طیف‌سنجی الکترون, سوالات چهارگزینه ای, پاسخنامه تشریحی

مباحث کتاب روش های شناسایی و آنالیز مواد:

1. آشنایی با پرتو ایکس
2. پراش پرتو ایکس (XRD)
3. شدت باریکه‌های پراشیده
4. فلورسانس پرتو ایکس (XRF)
5. طیف‌سنجی فوتو الکترون پرتو ایکس (XPS)
6.  طیف‌سنجی الکترون اوژه (AES)
7. طیف¬سنجی جرمی یون ثانویه (SIMS)
8. میکروسکوپ نوری (OM)
9. میکروسکوپ الکترونی روبشی (SEM)
10. میکروسکوپ الکترونی عبوری (TEM)
11. ميكروسكوپ روبشی تونلی (STM)
12.  میکروسکوپ نیروی اتمی (AFM)
13.  میکروسکوپ نیروی مغناطیسی (MFM)
14. میکروسکوپ میدان یونی (FIM)
15. طیف‌سنجی برگشتی رادرفورد (RBS)
16. روش‌های طیف‌سنجی نوری
17. آنالیز حرارتی
18. سوالات چهارگزینه ای
19.  پاسخنامه تشریحی
20. منابع